日本精工 SFT9400系列膜厚仪
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人气：1080 发布时间：2009-07-14 10:14 关键词：其它 产品型号： 应用领域：电磁辐射 产品价格：面议 想了解更多产品详情，请 |
| SFT9400系列 X射线荧光镀层厚度测量仪 |
| 产品副名称：可满足所有度层厚度测量需求的双检测器型镀层厚度测量仪 |
| 产品型号：SFT9400、SFT9450、SFT9455 |
| 产品特点： |
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★ 搭载有高功率X射线管及双检测器（半导体检测器+比例计数管） 可对应组合复杂的应用程序，特别是可识别Ni和Cu之类能量较为接近的元素。 ? 能够对Ni/Cu和Au/Ni/Cu在不使用二次滤波器的情况下进行测量 ? 对于含Br的电路板，可以不受Br的干扰对Au的镀层厚度进行高精度的测量 ? 可测量0.01μm以下的超薄的Au镀层厚度 ★ 搭载块体FP发软件和薄膜FP法软件 对应含铅的合金镀膜和多层镀膜等，适用于广泛的运用领域 ★ 适用超微小面积的测量 标准配备的15μmΦ的准直器，可对超微小面积进行测量。 ★ 搭载了可3段切换的变焦距光学系统 ★ 拥有防冲撞功能 ★ 搭载高精度样品平台，更可测量大型线路板（SFT9455） ★ 搭载激光对焦系统 ★ 搭载测试报告自动生成软件 |
| SFT9400系列产品规格 |
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型号
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SFT9400/SFT9450/SFT9455
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仪器的特长
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微小面积对应及高性能型
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可测量元素
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原子序号22(Ti)~ 83(Bi)
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X射线源
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小型空气冷却型高功率X射线管球(Mo靶)
管电压：50kV 管电流：1.5mA Be窗
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滤波器
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一次滤波器：Mo-自动切换
二次滤波器：无
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照射方式
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上方垂直照射方式
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检测器
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半导体检测器+比例计数管(不需液氮的检测器)
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仪器校正
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自动校正+手动校正
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准直器(标准配置)
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○型(Φ0.015、Φ0.05、Φ0.1、Φ0.2mm)
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安全性能
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样品室门锁，样品防冲撞功能
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样品图像对焦
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有(激光对焦)
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样品观察
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CCD摄像头+倍率光学器+卤素灯照明
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焦点切换功能
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3段切换9400：10/40/70mm
9450：10/25/40mm
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X-ray Station
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台式电脑
(OS; MS-Windows XP®) |
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打印
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喷墨打印机
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应用
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单层、双层、多成分合金薄膜、成分比同时测量、化学镍
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软件
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块体FP法软件、薄膜FP法软件
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测量功能
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自动测量、中心搜索、图像识别处理
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修正功能
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基材修正、已知样品修正、人工输入修正
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统计处理功能
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MS-EXCEL®
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报告制作功能
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MS-WORD®
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